一些實(shí)驗(yàn)室電子天平，通常是分析型或半微量型，具有統(tǒng)計(jì)功能。但是，這是什么意思？你如何使用這些數(shù)據(jù)？是否值得購買具有該功能的天平？在這篇文章中，我們將解釋與實(shí)驗(yàn)室電子天平相關(guān)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
出于我們的目的，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)被定義為來自數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)集的數(shù)據(jù)片段。
一些實(shí)驗(yàn)室電子天平，允許用戶以各種模式收集統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。用戶可以在稱重、計(jì)數(shù)或百分比稱重模式下進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。
容差：用戶可以設(shè)置容差，以決定哪些數(shù)據(jù)集應(yīng)保留在統(tǒng)計(jì)中。例如，如果您知道您的測量值應(yīng)該在 0.056 和 0.732 克之間，您可以排除任何低于或高于這些限制的東西。這使您可以擺脫可能會(huì)弄亂您的數(shù)據(jù)的異常值（例如標(biāo)準(zhǔn)差系數(shù)），或者選擇特定的數(shù)據(jù)集進(jìn)行分析。
最小值和最大值：測量記錄的最大值和最小值。
差值：最大值和最小值之間的差值。
總計(jì)：最大值和最小值之和。
平均值：記錄的所有測量值的平均值，通過將所有測量值的總和除以測量值的數(shù)量計(jì)算得出。
標(biāo)準(zhǔn)偏差：表示一組測量值的偏差或變化的量度。它表明您的測量值彼此之間有多么不同。
標(biāo)準(zhǔn)偏差系數(shù)：表示數(shù)據(jù)相對(duì)可變性的百分比。它是標(biāo)準(zhǔn)偏差與平均值的比率。余額包括這一點(diǎn)，因?yàn)樗梢栽试S用戶比較不同數(shù)據(jù)集的結(jié)果，即使它們沒有以相同的方式評(píng)估。
對(duì)于單次測量，標(biāo)準(zhǔn)差很有用，但系數(shù)是衡量多個(gè)數(shù)據(jù)集變化的更好方法，并且可以考慮上下文。
天平還會(huì)記錄您稱量的樣品數(shù)量、參考（如果有）以及收集統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的模式參數(shù)。
您可以收集統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。大不了。但是你如何使用它們？這種類型的數(shù)據(jù)有許多不同的用途；可以保存統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，以便對(duì)儀器進(jìn)行研究和實(shí)驗(yàn)的可追溯性和評(píng)估。它們可以洞察天平對(duì)某些任務(wù)的適用性。統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)對(duì)于質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室特別有用，在這些實(shí)驗(yàn)室中，過程的每個(gè)部分都經(jīng)過仔細(xì)檢查。
科學(xué)家可以獲取原始數(shù)據(jù)并對(duì)其進(jìn)行分析，以揭示模式、確認(rèn)或拒絕假設(shè)、找到相關(guān)性等等。您可以使用統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)來查找標(biāo)準(zhǔn)偏差和其他信息，這些信息將幫助您確定您的數(shù)據(jù)是否可用于研究。統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以揭示錯(cuò)誤，或者結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差是否可以接受，設(shè)置容差可確保您擁有干凈的數(shù)據(jù)集。從醫(yī)學(xué)到質(zhì)量測試，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)用于了解更多關(guān)于測試材料以及如何使用它們的信息。
